第八部分光学和仪器环境试验高压低压侵没
1范围
本部分规定了高压、低压、浸没试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。
本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。
本试验目的为研究试样的光学、热学、力学、化学和电学等特性受到环境气体高压、低压或水浸没影响的变化程皮。
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过GB/T 12085的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容〉或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的版本。凡是不注日期的引用文件，其版本适用于本部分。
GB/T]2085.1光学和l光学仪器环境试验方法第1部分:术语、试验范围CGB/T 12085.}-
2010.1SO 9022-1:1994,MOD)
3试验条件
光学仪器的耐压民验采用下述三种方法。
条件试验方法80:内高压;
条件试验方法81:内低压;
条件试验方法82:浸泣。
条件试验方法80的环境条件为清惰的干燥空气或氮气‘相对搜度小子30%。
条件试验方法82用于在使用期间时能遭到浸泼的仪器.浸投试验应使用软水并在敞开的水箱里或水压室中进行，浸设的深度极据试样的部位决定，水温应在10.C~25 t之间，暴露期间试样的泪度不得低于水瓶，但也不可超过水温10 K。
4条件试验
4.1条件试验方法8 0:内高压
条件试验方法80内高压的严酷等级按表1。
 
4.2条件试验方法8 1:内低压
条件试验方法81的内低压的严酷条件按表2
 
 
 
6环境试验标记
环境凶验标记应符合GB/T 120 85.1的规定.
 
A.1抗压试验说明
为f达到满意的功能，妥求光学仪器在改变环境泪度时，其内表面始终不会出现水膜.否则，光学性能将会大大降低或加剧讷如腐蚀和发霉等影响.通常仪器使用前必须密封在r-燥空气或者氯气中，并应按规定的抗压要求试验.
根据仪器的周国~气含盯或仪器内表面，或进人仪器外52衬套的空气含肚(换言之，按仪器的密封困类型和数量)，选择合远的仪器抗压性能，并按标准规定应择模拟环境工作的条件试验方法.内高压试验条件方法适合子因使用和运输而暴露在一个段高压力的严酷环境试验.而暴露在低温高压或者外高压的环境中的仪器必需进行内低压试验.(内低压试验也用于污染或不断增加的内部温度下。〉裸潜或在水下的仪器必须进行浸设试验.
对于在内高压〈条件试斡方法80)或内低压〈条件i式验方法81)的条件试验时ìè汰的压力/时间变化1111线的不连续担IJ虽数据，允许对被测仪器的密封度有一个活当的说明并合理确足所妥求的耐用度及时括性.压电式压阻的压力传感器与测母用放大器一起位~H1能提高测量精度.传感器必需装在试验座内
部，以免试样外部空气对测蓝的影响.本装置方便连峰记求器组件，例如，X T~è求器，可直接绘图.
4条件试验方法80和81的压力试验装置如图^.1.l刽八2显示压力试验的试验连接装置.
 
 
阁中4和出的对应蜕纹公称值按表A.1.