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微电子冲击试验机试验过程及结果


 
 
一、校准

试验前对力传感器加速度传感器进行校准对力的校准如图5使用标准SON标准质量,要求2Qns内传感器的记录偏差在士0.5N之内。加速度的校准原理如图6所示。通过式(10)可以求得加速度的大小用于校准加速度计,校准结果如图7所示。
 
 
微电子冲击试验机试验过程
 
 
二、试验
测试时电子器件安装在夹具上,夹具与电磁释放器绑定夹具自由设定电子器件释放前的姿练通电时夹具被电磁铁吸住,断电瞬间夹具与电磁释放器脱落,然后自由下落,夹具的释放高度可以根据需要在标尺刻度上设定在框架左下方安装2个智能眼,智能眼用以记录在夹具落时通过上下2个智能眼的时间,根据这2个时间差,加上已确定的智能眼之间的距离,通过计算机处理,可以测算出夹具的下落速度导轨的下端安装橡皮缓冲块,阻力夹具与测试台撞击试件继续保持落体运动直到与测试台撞击测压传感器安装在测试台下而,加速度传感器贴在试件上传感器和计算机中的数据采集卡相连接,由采集卡记录冲击试验数据,包括载荷、加速度、力、时间,冲击试验机可以达到的技术指标:
 

 微电子冲击试验机试验结果
 
冲击高度:2fin;
样品尺寸:25QnmX 25QnmX 25Qnm;
冲击力:40001V;
冲击加速度:10000Qn/s;
采样频率:300kHz
测试器件为飞利浦120型移动电话,如图8体积:79an',长:10Cm。宽41n。厚度:21nm,质量为95氢电池(55QnAh),塑料外壳,将手机显示屏向上水平放置,安装在夹具上,设定跌落高度为1 fin,测试台为木质材料,重复性试验3次所测得加速度一冲击时间曲线、载荷一冲击时间曲线如图9所示。
 
微电子冲击试验机试验结果
 
 
如果想要获得应变,冲击时间曲线,需要在测试器件上粘贴应变片,按照实际的需要实验中可以在器件上需要检测的部位粘贴若干个应变片,但是应变片的数量越多,所采集到的数据就越多,数据采集的量过大就需要高质量的采集卡,相应提高了实验成本对海量的数据,处理的时候也是增加了处理器的负荷,所以在测试应变的时候并不是所测点越多越好,而是需要对测量点进行选择,选择可能出现破坏的点这个选择工作需要一定的经验总结,图10提供了一些飞利浦手机测试点的参考位置。位置1是后壳和前壳体结合处,位置2是天线,位置3是液晶显示屏,位置4是电池安装处,位置5是按键,位置6是充电接口。http://www.zhenghangyq.com 
 
 
 

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