电子元器件的可靠性增长试验方法
 概述
电子元器件可靠性增K分析是最近发展起来的评价产品可靠性的一种新技术，是在 产品研制阶段，通过试验的方法来暴露电子元器件可靠性的薄弱环节，提供受试元器件在 规定条件下失效模式(失效的外部表现。如发射机无输出功率,接收机灵敏度降低等）和 失效机理(导致失效的内在原因，研究与失效有关的物理、化学过程和变化）的工程信息， 通过深入细致的分析研究,寻找并确定有效的改正措施,防止失效的再次出现，使得电子 元器件的固有可靠性得到确实的提高(增长）。所以，电子元器件可靠性增长试验(及可靠 性研制试验）不是以评定某个统计试验方案是否通过为目的，而是通过试验一分析一改 进一再试验的方法，以求得产品可靠性增长的一种试验。因此，可靠性增长试验的要求， 对受试产品可靠性的评价方法与一般的鉴定试验、验收试验不完全一样。美国军用标准 MIL - STD — 2068是可靠性研制试验方法标准。MIL — STD —1635是可靠性增长试验 方法标准。都为可靠性增长分析和可靠性增长评价提供了科学方法。现在有很多产品在 研制阶段没有进行可靠性增长试验,以致在定型时、定型后的可靠性试验中，或在定型后 的现场使用中，暴露出大最的质最和可靠性问题，通过对失效的分析研究，采取一些改进 措施,提高了产品的可靠性水平。这样做对提高产品的可靠性、满足用户要求等是有益 的、必需的。但是，产品已经定型生产了,并在现场已实际使用，再进行改进付出的代价是 很大的，难免造成很大的浪费。如果在研制阶段就进行可靠性增长分析，将产品的失效模 式及失效机理消除在摇篮中，就可以避免定型后进行返工或改进造成的人力、物力的浪 费。更可以避免产品在现场使用中，因失效所造成的严重的有时是不可弥补的损失，同时 还可以大大缩短产品的研制周期。有许多的实例说明，产品研制阶段单纯地进行功能和 性能设计，虽然样机研制出来了,但由于可靠性水平低，而不能定型，或者勉强定型了，但 生产出来的产品不能满足实际现场使用要求，造成很大浪费,失去很多宝贵时间。例如， 某通信设备,从功能和性能设计到做出8台样机只花了两年多时间，但由于可靠性过不了 关，于是，进行元器件可靠性攻关试验和整机可靠性改进,花费的时间达四年之多。还有 某公司生产的定向指挥仪，首批的300多台设备不可靠不能使用，要重新花钱买一批新设 备，同时拆旧装新还浪费了大最的人力和时间。所以,产品可靠性增长试验和产品可靠性 增长分析，在产品研制中处于非常重要的地位。产品可靠性增长试验能使产品可靠性达 到预期的水平，并能缩短试制周期，减少试制经费。


可靠性增长试验是电子元器件可靠性试验的一种类型，适用于各类铟电子元器件的 可靠性增长试验，而且与鉴定试验和验收试验一样是电子元器件整个可靠性工程的一个 重要组成部分。可靠性增长试验的方法和标准是与可靠性名词、术语、鉴定试验与验收试 验、环境试验、设备可靠性预计手册等标准配合使用的。除了本章的内容外，以上各章所 述的基本理论和要求，只要适用于可靠性增长试验，都可以直接应用。