速寿命试验方案的基本想法
为了通过试验获得准确和足够的数据,有效地反映产品的可靠性数量特征，加速而又 “真实”地暴露失效模式，以及避免在时间和费用上造成很大浪费,所以，在试验之前必须 周密地计划，做出妥善的安排。由于加速寿命试验的设备基本与长期寿命试验的设备相 同，而其试验应力按加速寿命试验规定的方式施加,所以,除本章长期寿命试验提出的几 个注意问题外，根据加速寿命试验的特点，还应考虑如下几个问题。
(1)选择加速变量
产品的失效是由其失效机理所决定的。失效机理促使失效过程的发展。同时，失效 过程进行的快慢又受到环境条件和工作条件等应力的影响。伹是产品所处实际工作状态 或储存状态的环境条件或工作条件等，并不是都能产生同样的失效机理,可能有多种失效 机理同时出现。在一定时期内和一定条件下将有些起主导作用的失效机理促使失效过程 发展。在选择加速变量时,就要选择那种对主要失效机理起主导作用的应力条件。半导 体器件常选择温度作为加速变量。例如，推算器件在正常温度下的储存寿命特征,可以选 择环境温度作为加速变量;如果推算器件在额定负荷条件下的工作寿命特征,也可以选择 温度作为加速变量，但此温度是由电应力转化成的温度与环境温度一起形成的结温。
除了温度和电压外，有时还选择电流、功率、相对湿度等作为加速变貴。