长期工作寿命试验
我们把电子产品在规定的工作及环境条件下进行的寿命试验称为工作寿命试验。工 作寿命试验周期在1000小时以上者称为长期工作寿命试验。长期工作寿命试验又分连 续工作寿命试验和间断工作寿命试验两种。
连续工作寿命试验
这是传统的寿命试验方法。试验在室温下进行。它又可分为静态工作寿命试验和动 态工作寿命试验。半导体器件的静态试验通常对器件加上直流额定负荷。如对晶体 管规定在室温(25士5)X：下加上集电极耗散功率，分别在240、480、1000、2000、3000、 4000,5000小时后测惫电参数。这种试验方法是由外加功耗使内部结温达到应有极限， 以检验器件的失效情况。通过此项试验，可以了解产品在额定应力下工作的可靠性。动 态试验是模拟器件实际工作状态的试验，所得结果反映了产品使用的可靠性。如对集成 电路规定在室温下加额定电源电压、额定负载和一定频率信号的情况下进行寿命试验。
间断工作寿命试验
使样品周期性地处于工作和断开状态的寿命试验称为间断工作寿命试验。它主要用于 评估大功率器件内部耐温度剧变和电应力突变的能力。小功率器件一般不做这项试验。