电子元器件的寿命试验
寿命试验是评价、分析产品寿命特征的试验，它是在实验室条件下，摸拟实际工作状 态或储存状态，投人一定样品进行试验，试验中记录样品失效的时间，并对这些失效时间 进行统计、分析，以评估产品的可靠性数量特征(如可靠度、失效串、平均寿命等），作为可 靠性预测、可靠性设计、制定筛选条件、制定例行试验的规范和改进产品质量的依据。
因为寿命试验的目的是考核产品在规定的条件下，在全过程工作时间内的质量和可 靠性，所以，为了使试验结果有较好的代表性，参试的样品要有足够的数量。如按 GJB548《微电子器件试验方法和程序》的《鉴定和质量一致性检验程序》，采用批容许不合 格百分率(LTPD，Lot Tolerance Percent Defective)等于 5 的抽样方案。
寿命试验可根据不同的分类方法进行不同的分类:如以施加应力大小区分,可分为长 期寿命试验和加速寿命试验;如以受试样品所处状态区分,又可分为储存寿命试验和工作 寿命试验两大类;如从数据处理角度出发，又可划分为定时截尾试验、定数截尾试验、有替 换试验、无替换试验等类型。
不同电子元器件可有不同的寿命试验。如微电路的寿命试验分稳态寿命试验、间歇 寿命试验和模拟寿命试验。稳态寿命试验是微电路必须进行的试验，试验时要求被试样 品要施加适当的电源,使其处于正常的工作状态。国家军用标准的稳态寿命试验环境温 度为125X：，时间为1000小时。加速试验可以提髙温度，缩短时间。功率型微电路管壳的 温度一般大于环境温度，试验时保持环境温度可以低于125T：。微电路稳态寿命试验环境 温度或管壳的温度要以微电路结温等于额定结温为基点(一般在175X：?200X：之间）进 行调整。间歇寿命试验要求以一定的频率对被试微电路切断或突然施加偏压和信号，其 他试验条件与稳态寿命试验相同。模拟寿命试验是一种模拟微电路应用环境的组合试 验。它的组合应力有机械、温度、湿度和低气压四应力试验及机械、温度、湿度和电四应力 试验等。