利用威布尔概率纸估计可靠性数置特征的方法
作为估计可靠性数量特征的图估法是利用威布尔概率纸对原始数据进行初步整理并估 计可靠性数董特征的方法。这是目前较常用的一种处理方法。为了淸楚地看出试验数据的 分布情况，往往可以将原始数据在威布尔概率纸或对数正态概率纸等坐标纸上进行描点。
通过描点，就可以大体看出其试验数据是近似于何种分布的。如果所描各点在某概 率纸上接近于一条直线，就可以认为它趋于这种分布，并且还可以通过图估法估计其分布 的寿命特征。
威布尔概率纸是一种用途较广泛的概率纸，人们经常采用它的理由是;在威布尔率纸 上描点，在r = 0的情况下，人们可以根据其形状参数m的情况大体预计其分布情况。当 m = 1时，可以认为它接近于指数分布;当m = 2时,可以认为它是接近于瑞利分布的;当 ^>3.5时，可以把它当做正态分布处理;当m < 1时，可以认为它接近于伽玛分布。所 以对于半导体器件等电子元器件的各个不同阶段的失效规律，几乎均可用威布尔分布来 描述，本节就讨论威布尔分布的统计分析方法。